Accexp透明網片的厚度測量解決方案
2015-08-14
Accexp透明網片的厚度測量解決方案可以使用納米分辨率，而且可以在不接觸目標的情況下測量厚度。Accexp透明網片的厚度測量解決方案的特點就是精度高，可以測量5um厚度，而且可以測量多層薄膜。
Accexp透明網片的厚度測量解決方案由長沙艾克賽普儀器設備有限公司提供，以下是Accexp透明網片的厚度測量解決方案的產品詳細信息。如果您有任何疑問或者相關需求，可以聯(lián)系0731-84284278轉801，郵箱：shawn.xiao@hncsw.net。長沙艾克賽普儀器設備有限公司可以根據(jù)您的需求定制整套解決方案。
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ACCEXP-SI-F 系列
微型傳感頭型分光干涉式 激光位移計 -
隆重推出業(yè)界超細微型傳感頭，其擁有同類產品中最高的測量精度，并實現(xiàn)了過去認為不可能實現(xiàn)的性能。
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ACCEXP-SI-F 系列
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ACCEXP-SI-F80R 系列
分光干涉式晶片厚度計 -
采用近紅外 SLD，即使已貼附 BG 帶也可測量晶片本身的厚度。即使晶片表面存在由于圖案而產生的顯著差異，也可實現(xiàn)準確的生產線上測量。
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ACCEXP-SI-F80R 系列
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