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發(fā)射卷軸是提高多模光纜衰減測試能力的最有效辦法
2011-11-24
根據(jù)美國TIA/EIA-568B 標(biāo)準(zhǔn)，在現(xiàn)場測試多模光纜時，必須使用卷軸（Mandrel）。因為它可以利用普通的LED 型散射面廣的光源用來認(rèn)證62.5 m 和 50 m 多模光纜是否可以支持千兆甚至萬兆以太網(wǎng)。高層次和低層次的模式
多模光纜的特點是在光纖上會同時載有多個光路徑。這些路徑，有些是匯聚在光纜的中心部分（“低層次”模式），有些卻在光纜傳輸部分的邊緣彈跳著（“高層次”模式）。
“高層次”模式由于光纜鏈路的弧度變化和制造特性，會出現(xiàn)由于衰減造成的測試結(jié)果重復(fù)性低的特點。相對來說，”低層次”模式的光一般比較穩(wěn)定。在測試時，需要用一個能發(fā)出“低層次”光的光源，這會讓測試結(jié)果更精確和更有重復(fù)性?？梢杂脙煞N方法實現(xiàn)：
▲用一個只會發(fā)出”低層次”模式光，如VSCEL 激光的光源。
▲用一個普通的光源（發(fā)出”高層次”和”低層次”模式的），加上一個可以刪除“高層次”光的外設(shè)調(diào)節(jié)設(shè)備。
發(fā)射卷軸
發(fā)射卷軸的原理是通過多個大弧度，把“高層次“模式的光消耗掉。下面的圖形顯示了如何通過外設(shè)調(diào)節(jié)設(shè)備，如“發(fā)射卷軸”，讓一個普通的光源（發(fā)出”高層次”和”低層次”模式的）可以模擬VCSEL光源只發(fā)出“低層次”光的特性。
上圖依次為：
VSCEL 光源
普通多模光源
普通多模光源配上發(fā)射卷軸
福祿克網(wǎng)絡(luò)的光纜測試系列和發(fā)射卷軸
福祿克網(wǎng)絡(luò)提供多種光纜測試工具。最受歡迎的DSP-4000,DTX-1800 系列線纜認(rèn)證分析儀, 除了配有多模和單模的光纜測試適配器外，還有配有VSCEL 光源的光纜測試適配器，可以直接認(rèn)證光纜是否滿足千兆以太網(wǎng)的要求。
如果只需要光衰減值，可以選擇經(jīng)濟的SimpliFiber。SimpliFiber 的光表，可以自動識別光源發(fā)出的波長，如850nm 或1300nm。在測試時不會因為設(shè)置錯誤引起誤判，延誤工程或診斷效率?？梢源鎯?00個測試結(jié)果。
福祿克網(wǎng)絡(luò)為以上測試儀提供兩個滿足TIA-568B 要求的支持業(yè)內(nèi)最常用的3mm 光纜的發(fā)射卷軸：對于50微米的光纜是22mm 的發(fā)射卷軸，對于62.5微米的光纜是17mm 發(fā)射卷軸。當(dāng)用發(fā)射卷軸時，必須從校準(zhǔn)時開始，直到測試完畢后才可拆除。
校準(zhǔn)測試設(shè)備
測試光鏈路衰減
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