布魯克Bruker M1 MISTRAL X射線熒光光譜儀
名稱：光譜儀
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簡介：布魯克Bruker M1 MISTRAL X射線熒光光譜儀是采用X射線熒光技術的光譜儀，可對大件樣品和鍍層樣品進行準確的分析。分析的元素范圍：原子序數22號（鈦）以上的所有元素。分析的樣品類型：各種不同的材料，如金屬、合金、金屬鍍層包括多層...
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- 產品介紹
布魯克Bruker M1 MISTRAL X射線熒光光譜儀是采用X射線熒光技術的光譜儀，可對大件樣品和鍍層樣品進行準確的分析。分析的元素范圍：原子序數22號（鈦）以上的所有元素。分析的樣品類型：各種不同的材料，如金屬、合金、金屬鍍層包括多層鍍層樣品。布魯克Bruker M1 MISTRAL X射線熒光光譜儀樣品尺寸最大可達100×100×100mm，無需任何處理，直接放在樣品臺上檢測。光管位于樣品上方，測量過程中不接觸樣品，因此可以很容易地分析復雜式樣的樣品，如精工細作的珠寶或不同厚度的樣品。
布魯克Bruker M1 MISTRAL X射線熒光光譜儀的微焦斑X射線光管，即使光斑尺寸小到100µm也可以產生足夠的射線強度，光斑大小取決于所使用的準直器。采用視頻顯微鏡進行準確定位，可以測量任何想測的位置。可選計算機控制的自動樣品臺，并自動聚焦。不管您是根據標準來控制樣品的質量，還是測量完全未知樣品的組成，XSpect分析軟件都提供了合適的工具：對于塊狀樣品和多層膜樣品，進行有標樣定量和無標樣定量（基本參數法）。點擊一下鼠標就可以自動進行重復測量。布魯克Bruker M1 MISTRAL X射線熒光光譜儀可配兩種不同類型的探測器：大面積的充氣正比計數器，可用于質量控制中的標準應用；或者配置硅漂移探測器，具有超快的檢測速度和非常好的能量分辨率，檢出限可以達到0.01%。先進的探測器、數字脈沖處理器及優化的幾何結構，確保了X射線探測的最大效率，以快速地得到準確的分析結果。布魯克Bruker M1 MISTRAL X射線熒光光譜儀及其軟件的設計，讓操作人員只需經過簡單培訓即可使用。僅一個電源接口就可以運行儀器，采用空氣冷卻，無需消耗品。堅固的結構確保最高的穩定性，并且完全免維護。
以下是艾克賽普為您介紹布魯克Bruker M1 MISTRAL X射線熒光光譜儀的技術參數，如有相關問題，請聯系長沙艾克賽普儀器儀表公司www.kafenchem.com，聯系電話：0731-84284278 84284378。
布魯克Bruker M1 MISTRAL X射線熒光光譜儀技術參數：M1 MISTRAL根據所配探測器不同分為二種型號：正比計數器（PC）型和高分辨的硅漂移探測器（SDD）型 M1 MISTRAL(PC) 。激光源：高性能微焦斑光管，W靶，玻璃窗。電壓及功率為40kV, 40W。探測器：大面積正比計數器，1100mm²感應面積。光斑尺寸：準直器交換器，0.3 mm或以上。樣品觀察：高分辨彩色攝像系統，放大倍數20-40倍。樣品臺：馬達驅動Z方向樣品臺，自動對焦。選項：馬達驅動X-Y-Z樣品臺，自動對焦，便捷進樣功能。定量分析、塊狀樣品：基于標樣的經驗系數法模型和無標樣模型。鍍層分析：基本參數法模型。 電源：110 to 230 V AC; 50/60Hz, 最大功率100W。 尺寸（寬x深x高）550x700x430mm。重量46kg
M1 MISTRAL(SDD)激發源 高性能微焦斑光管，W靶，玻璃窗。電壓及功率50kV, 50W。探測器 電制冷高性能XFlash® 硅漂移探測器，30mm²感應面積，對Mn-Ka能量分辨率小于150eV。光斑尺寸：準直器交換器，0.5 mm或以上。樣品觀察：高分辨彩色攝像系統，放大倍數20-40倍。樣品臺：馬達驅動X-Y-Z樣品臺，自動對焦，便捷進樣功能。定量分析、塊狀樣品：基于標樣的經驗系數法模型和無標樣模型。鍍層分析：基本參數法模型。電源：110 to 230 V AC; 50/60Hz, 最大功率120W。尺寸（寬x深x高）550x700x430mm。重量50kg。
如果你需要布魯克Bruker M1 MISTRAL X射線熒光光譜儀及布魯克品牌儀器、或者其他品牌儀器，均可聯絡我司銷售部門：0731-84284278 84284378。
