湖南省長(zhǎng)沙市車站北路湘域智慧南塔6樓
安徽省合肥市高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)開發(fā)區(qū)科學(xué)大道110號(hào)新材料園F9A號(hào)樓511室
0731-84284278
0731-84284278
service@hncsw.net
0731-84284278
反射式膜厚儀RM1000/RM2000
名稱：涂鍍層測(cè)厚儀
品牌：
型號(hào)：
簡(jiǎn)介：簡(jiǎn)單信息： RM1000/RM2000 反射式膜厚儀紫外可見光譜反射干涉式膜厚儀，又叫白光干涉儀，可測(cè)量分析膜厚、光學(xué)常數(shù)、材料組分。可測(cè)量SiNx / mcSi單晶硅太陽(yáng)能電池防反膜。 SENTECH Reflectometer RM能夠...
申請(qǐng)服務(wù)
- 產(chǎn)品介紹
簡(jiǎn)單信息： RM1000/RM2000 反射式膜厚儀紫外可見光譜反射干涉式膜厚儀，又叫白光干涉儀，可測(cè)量分析膜厚、光學(xué)常數(shù)、材料組分。可測(cè)量SiNx / mcSi單晶硅太陽(yáng)能電池防反膜。
SENTECH ’ Reflectometer RM能夠在UV-VIS-NIR光譜范圍對(duì)單層膜、多層膜和基底材料進(jìn)行高精度反射光譜測(cè)量。可對(duì)吸收或透明基底上的透明或弱吸收薄膜分析厚度和折射率
關(guān)鍵特性:
• 高精度反射率測(cè)量，非接觸，正入射光
• 寬光譜范圍，可從 UV至NIR
• 測(cè)量反射率曲線R, 薄膜厚度，折射率
• FTPexpert 軟件，用于測(cè)量薄膜的光學(xué)參數(shù)
• 測(cè)量半導(dǎo)體混合物的組分 (例如： AlGaN on GaN)
• 分析各向異性薄膜
選項(xiàng):
• 光譜范圍擴(kuò)展至DUV (200 nm)
• 光譜范圍拓展至NIR (1700 nm)
• x-y 地貌圖掃描樣品臺(tái)和軟件
• 攝象頭
• PC
商品名稱： 反射式膜厚儀
商品型號(hào)： RM1000/RM2000
最新產(chǎn)品
相關(guān)產(chǎn)品
